דילוג לניווט ראשי דילוג לחיפוש דילוג לתוכן הראשי

Y1-xCaxBa2Cu3O7-δ thin films: From phase fluctuations to a complex order parameter

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמרביקורת עמיתים

תקציר

This report presents a study of the temperature dependence of the penetration depth in Y1-xCaxBa2Cu3O7-δ thin films, which shows that a contribution to the order parameter from phase fluctuations in optimally doped samples cannot be excluded, and demonstrates the appearance of an imaginary component in the order parameter in overdoped samples. Measurements were performed using two complementary techniques: the parallel plate resonator (PPR), operated at 10 GHz, and far infrared (FIR) transmission, where the absolute value of the penetration depth can be obtained.

שפה מקוריתאנגלית
עמודים (מ-עד)3082-3084
מספר עמודים3
כתב עתJournal of Physics and Chemistry of Solids
כרך69
מספר גיליון12
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - דצמ׳ 2008

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Y1-xCaxBa2Cu3O7-δ thin films: From phase fluctuations to a complex order parameter'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי