Towards a new simulation testbed for semiconductor manufacturing

Michael Hassoun, Adar Kalir

פרסום מחקרי: פרק בספר / בדוח / בכנספרסום בספר כנסביקורת עמיתים

8 ציטוטים ‏(Scopus)

תקציר

We propose the creation of a new set of fab simulation testbeds. Extensions and additional features, not considered in the original MIMAC datasets, shall be incorporated in these new testbeds, thus allowing researchers to evaluate new methodologies with the same frame of reference. To do this, we surveyed the literature and mapped the pertinent research efforts of the past two decades. In this paper, we discuss in detail the various aspects of the new testbeds, in order to receive feedback from the simulation community on the importance of inclusion of some of the items in question; and the verification of the required inclusion of other items. Given the feedback, we aim to generate these testbeds within a year to serve as the new frame of reference for the benefit of the entire semiconductor manufacturing simulation community.

שפה מקוריתאנגלית
כותר פרסום המארח2017 Winter Simulation Conference, WSC 2017
עורכיםVictor Chan
מוציא לאורInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
עמודים3612-3623
מספר עמודים12
מסת"ב (אלקטרוני)9781538634288
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 28 יוני 2017
אירוע2017 Winter Simulation Conference, WSC 2017 - Las Vegas, ארצות הברית
משך הזמן: 3 דצמ׳ 20176 דצמ׳ 2017

סדרות פרסומים

שםProceedings - Winter Simulation Conference
ISSN (מודפס)0891-7736

כנס

כנס2017 Winter Simulation Conference, WSC 2017
מדינה/אזורארצות הברית
עירLas Vegas
תקופה3/12/176/12/17

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Towards a new simulation testbed for semiconductor manufacturing'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי