Synopsis of multiphysics deep sub-micron failure rate modeling technique for CFR and EOL prediction

Mark Musil, Alain Bensoussan, Joseph Bernstein, Fabio Coccetti

פרסום מחקרי: פרק בספר / בדוח / בכנספרסום בספר כנסביקורת עמיתים

1 ציטוט ‏(Scopus)

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Synopsis of multiphysics deep sub-micron failure rate modeling technique for CFR and EOL prediction'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

Keyphrases

Engineering