Strain compensated InGaAs/InGaP quantum well infrared detector for midwavelength band detection

S. Maimon, G. M. Cohen, E. Finkman, G. Bahir, D. Ritter, S. E. Schacham

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמרביקורת עמיתים

15 ציטוטים ‏(Scopus)

תקציר

A high detectivity multiquantum well midinfrared photodetector is reported. It is based on a strain compensated InGaAs/InGaP on InP structure, using bound-to-continuum intersubband absorption, with λP=4.9μm and ∼0.5 μm full width at half maximum. This design is unique by enabling a large critical thickness, thus increasing the quantum efficiency. Photodetectors with background-limited performance (BLIP) with detectivity of Dλ*(BLIP)=3.2×1010cm Hz /W up to 110 K, with only ten quantum well periods were implemented. Arguments are given to predict an optimized background-limited performance for this design up to 135 K.

שפה מקוריתאנגלית
עמודים (מ-עד)800-802
מספר עמודים3
כתב עתApplied Physics Letters
כרך73
מספר גיליון6
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 1998

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Strain compensated InGaAs/InGaP quantum well infrared detector for midwavelength band detection'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי