SRAM stability analysis considering gate oxide SBD, NBTI and HCI

Jin Qin, Xiaojun Li, Joseph B. Bernstein

פרסום מחקרי: פרק בספר / בדוח / בכנספרסום בספר כנסביקורת עמיתים

22 ציטוטים ‏(Scopus)

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'SRAM stability analysis considering gate oxide SBD, NBTI and HCI'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

Keyphrases

Engineering