דילוג לניווט ראשי דילוג לחיפוש דילוג לתוכן הראשי

Spectral limits and frequency sum-rule of current and radiation noise measurement

פרסום מחקרי: פרק בספר / בדוח / בכנספרסום בספר כנסביקורת עמיתים

תקציר

The current noise spectrum of an electron beam is generally considered white and expressed by the shot-noise formula (eI0). It is possible to control the spectral energy of a random electron beam current by longitudinal space charge micro-dynamics and dispersive transport. Both noise suppression (relative to eI0) and noise enhancement have been demonstrated, exhibiting sub/super-Poissonian particle distribution statistics, respectively. We present a general theory for the current noise of an e-beam and its radiation emission in the entire spectrum. The measurable current noise spectrum is not white. It is cut-off at high frequencies, limited by the measurement length and the beam axial momentum spread (fundamentally limited by quantum uncertainty). We show that under certain conditions the current noise spectrum satisfies a frequency sum-rule: exhibiting noise enhancement in one part of the spectrum when suppressed at another part and vice versa. The spontaneous emission (radiation noise) into a single radiation mode or single direction in any scheme (OTR, Undulator etc.) is sub-radiant when the beam current is sub-Poissonian and vice versa, but the sum-rule does not apply.

שפה מקוריתאנגלית
כותר פרסום המארחProceedings of the 36th International Free Electron Laser Conference, FEL 2014
עמודים362-367
מספר עמודים6
מסת"ב (אלקטרוני)9783954501335
סטטוס פרסוםפורסם - 2014
פורסם באופן חיצוניכן
אירוע36th International Free Electron Laser Conference, FEL 2014 - Basel, שוויץ
משך הזמן: 25 אוג׳ 201429 אוג׳ 2014

סדרות פרסומים

שםProceedings of the 36th International Free Electron Laser Conference, FEL 2014

כנס

כנס36th International Free Electron Laser Conference, FEL 2014
מדינה/אזורשוויץ
עירBasel
תקופה25/08/1429/08/14

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Spectral limits and frequency sum-rule of current and radiation noise measurement'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי