Spatial distributions of trapping centers in HfO2/SiO2 gate stack

Dawei Heh, Chadwin D. Young, George A. Brown, P. Y. Hung, Alain Diebold, Eric M. Vogel, Joseph B. Bernstein, Gennadi Bersuker

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמרביקורת עמיתים

55 ציטוטים ‏(Scopus)

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Spatial distributions of trapping centers in HfO2/SiO2 gate stack'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

Keyphrases

Engineering

Earth and Planetary Sciences

Agricultural and Biological Sciences