תקציר
A method for polarimetric measurement that uses a discrete space-variant subwavelength dielectric grating is presented. One retrieves the polarization state by measuring the far-field intensity of a beam emerging from the grating followed by a polarizer. The analysis for a partially polarized, quasi-monochromatic beam is performed by use of the beam coherence polarization matrix along with an extended van Cittert-Zernike theorem. We experimentally demonstrate polarization measurements of both fully and partially polarized light.
| שפה מקורית | אנגלית |
|---|---|
| עמודים (מ-עד) | 2245-2247 |
| מספר עמודים | 3 |
| כתב עת | Optics Letters |
| כרך | 30 |
| מספר גיליון | 17 |
| מזהי עצם דיגיטלי (DOIs) | |
| סטטוס פרסום | פורסם - 1 ספט׳ 2005 |
| פורסם באופן חיצוני | כן |
טביעת אצבע
להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Space-variant polarization manipulation for far-field polarimetry by use of subwavelength dielectric gratings'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.פורמט ציטוט ביבליוגרפי
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver