Setting quality control requirements to balance cycle time and yield - The single machine case

Miri Gilenson, Liron Yedidsion, Michael Hassoun

פרסום מחקרי: פרק בספר / בדוח / בכנספרסום בספר כנסביקורת עמיתים

1 ציטוט ‏(Scopus)

תקציר

Control limits in use at metrology stations are traditionally set by yield requirements. Since excursions from these limits usually trigger machine stoppage, the monitor design has a direct impact on the station's availability, and thus on the product cycle time (CT). In this work we lay the foundation for a bi-criteria trade-off formulation between expected CT and die yield based on the impact of the inspection control limits on both performance measures. We assume a single machine plagued by a particle deposition process and immediately followed by a monitor step. We explore the impact of the upper control limit on the expected final yield on one hand, and on the distribution of the station time between consecutive stoppages on the other. The obtained model enables decision makers to knowingly sacrifice yield to shorten CT and vice versa.

שפה מקוריתאנגלית
כותר פרסום המארחProceedings of the 2012 Winter Simulation Conference, WSC 2012
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 2012
אירוע2012 Winter Simulation Conference, WSC 2012 - Berlin, גרמניה
משך הזמן: 9 דצמ׳ 201212 דצמ׳ 2012

סדרות פרסומים

שםProceedings - Winter Simulation Conference
ISSN (מודפס)0891-7736

כנס

כנס2012 Winter Simulation Conference, WSC 2012
מדינה/אזורגרמניה
עירBerlin
תקופה9/12/1212/12/12

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Setting quality control requirements to balance cycle time and yield - The single machine case'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי