Scanning near-field infrared microscopy based on tapered silver-halide probes

P. Ephrat, K. Roodenko, L. Nagli, A. Katzir

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמרביקורת עמיתים

31 ציטוטים ‏(Scopus)

תקציר

The development of scanning near-field infrared microscopes (SNIM) based on fiberoptic silver-halide probes was studied. The feasibility of using these probes in a SNIM system were demonstrated by imaging of a subwavelength test pattern. The knife-edge technique was used to perform spatial characterization of the radiation distribution emitted from these probes. These probes possess broad range of spectral transmission in the mid-infrared (IR) that proved very useful in high spatial resolution spectroscopy.

שפה מקוריתאנגלית
עמודים (מ-עד)637-639
מספר עמודים3
כתב עתApplied Physics Letters
כרך84
מספר גיליון4
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 26 ינו׳ 2004
פורסם באופן חיצוניכן

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Scanning near-field infrared microscopy based on tapered silver-halide probes'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי