טביעת אצבע
להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Reliability of ultrathin silicon dioxide under combined substrate hot-electron and constant voltage tunneling stress'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.- מיון לפי
- משקל
- לפי סדר האלפבית
Reliability of ultrathin silicon dioxide under combined substrate hot-electron and constant voltage tunneling stress
Eric M. Vogel, John S. Suehle, Monica D. Edelstein, Bin Wang, Yuan Chen, Joseph B. Bernstein
פרסום מחקרי: פרסום בכתב עת › מאמר › ביקורת עמיתים
55
ציטוטים
(Scopus)