Photoconductivity of Ge/Si quantum dot photodetectors

N. Rappaport, E. Finkman, P. Boucaud, S. Sauvage, T. Brunhes, V. Le Thanh, D. Bouchier, S. E. Schacham

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמרביקורת עמיתים

11 ציטוטים ‏(Scopus)

תקציר

Various structures of self-assembled Ge/Si quantum dot infrared photodetectors were implemented and investigated. The electronic structure of the QDIPs was studied by electrical and optical techniques including I-V characteristics, dark current, photoconductivity, photoluminescence, and photo-induced infrared absorption. The photoconductive spectra consist of a broad multi-peak, composed of peaks ranging from 70 to 220 meV. Their relative intensity changes with bias. Comparative dark current measurements were performed. Dark current limits the performance of this first generation of Ge/ Si QDIPs. It is plausible that direct doping in the dot layer is a viable way of reducing the dark current.

שפה מקוריתאנגלית
עמודים (מ-עד)513-516
מספר עמודים4
כתב עתInfrared Physics and Technology
כרך44
מספר גיליון5-6
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 2003

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Photoconductivity of Ge/Si quantum dot photodetectors'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי