Penetration depth measurement in high quality YBa2Cu3O7 - X thin films

E. Farber, G. Deutscher, J. P. Contour, E. Jerby

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמרביקורת עמיתים

21 ציטוטים ‏(Scopus)

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Penetration depth measurement in high quality YBa2Cu3O7 - X thin films'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

Keyphrases

Engineering

Physics