דילוג לניווט ראשי דילוג לחיפוש דילוג לתוכן הראשי

Non-polar m-plane intersubband based InGaN/(Al)GaN quantum well infrared photodetectors

  • A. Pesach
  • , E. Gross
  • , C. Y. Huang
  • , Y. D. Lin
  • , A. Vardi
  • , S. E. Schacham
  • , S. Nakamura
  • , G. Bahir

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמרביקורת עמיתים

42 ציטוטים ‏(Scopus)

תקציר

We demonstrate intersuband InGaN/(Al)GaN quantum well infrared photodetectors grown on a free standing non-polar m-plane GaN substrate. The devices are grown by metal organic chemical vapor deposition and exhibit TM-polarized photocurrent at peak wavelengths of 7.5 and 9.3 μm at temperature of 14 K. Based on the experimental data of intersubband and interband transition energies and 8-band k·p Schrödinger-Poisson solver calculations, we were able to estimate the conduction band offset to valence band offset discontinuity ratio (ΔEc:ΔE v) of 57:43 for In0.1Ga0.9N/GaN and 55:45, for In0.095GA0.905N/Al0.07Ga0.93N non-polar m-plane multi-quantum well structures.

שפה מקוריתאנגלית
מספר המאמר022110
כתב עתApplied Physics Letters
כרך103
מספר גיליון2
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 8 יולי 2013

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Non-polar m-plane intersubband based InGaN/(Al)GaN quantum well infrared photodetectors'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי