דילוג לניווט ראשי
דילוג לחיפוש
דילוג לתוכן הראשי
אוניברסיטת אריאל בשומרון בית
עזרה ושאלות נפוצות
English
עברית
العربية
בית
פרופילים
יחידות מחקר
ציוד
פרסומים מחקריים
פרסים
פעילויות
חיפוש לפי מומחיות, שם או שיוך
New technique to extract TDDB acceleration parameters from fast Q
bd
tests
Yuan Chen
, John S. Suehle
, Bruce Shen
,
Joseph Bernstein
, Cleston Messick
, Prasad Chaparala
פרסום מחקרי
:
תוצר מחקר מכנס
›
הרצאה
›
ביקורת עמיתים
סקירה כללית
טביעת אצבע
טביעת אצבע
להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'New technique to extract TDDB acceleration parameters from fast Q
bd
tests'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.
מיון לפי
משקל
לפי סדר האלפבית
Keyphrases
Time-dependent Dielectric Breakdown
100%
Acceleration Parameter
100%
Breakdown Test
66%
Constant Current
33%
Current Injection
33%
Stress-driven
33%
Constant Voltage Stress
33%
Dielectric Breakdown Test
33%
Engineering
Dielectrics
100%
Constant Voltage
33%
Current Injection
33%
Earth and Planetary Sciences
Dielectric Material
100%