טביעת אצבע
להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Latent reliability degradation of ultra-thin oxides after heavy ion and γ-ray irradiation'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.- מיון לפי
- משקל
- לפי סדר האלפבית
Latent reliability degradation of ultra-thin oxides after heavy ion and γ-ray irradiation
Bin Wang, J. S. Suehle, E. M. Vogel, J. R. Conley, C. E. Weintraub, A. H. Johnston, J. B. Bernstein
פרסום מחקרי: תוצר מחקר מכנס › הרצאה › ביקורת עמיתים
7
ציטוטים
(Scopus)