דילוג לניווט ראשי דילוג לחיפוש דילוג לתוכן הראשי

Laser formed connections for programmable wiring

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמר מכנסביקורת עמיתים

3 ציטוטים ‏(Scopus)

תקציר

Solid metallic connections have been successfully formed between two standard levels of metallization using a focussed IR laser system. This new process of laser farmed connections has been used to link chins with resistances of less than 0.8 Ω per connection. Commercial laser repair systems used extensively by the memory industry were employed to perform over 100,000 individual links over a wide set of laser parameters without failure. This technology has the potential to replace laser fuse cutting techniques to program wiring in silicon-on-silicon, wafer scale integration (WSI), and system-on-a-chip applications. Furthermore, because it is an additive process and the passivation remains completely in tact, it lends itself to redundancy with perfect yield and exceptional reliability.

שפה מקוריתאנגלית
עמודים (מ-עד)163-165
מספר עמודים3
כתב עתProceedings of the Custom Integrated Circuits Conference
סטטוס פרסוםפורסם - 1998
פורסם באופן חיצוניכן
אירועProceedings of the 1998 IEEE Custom Integrated Circuits Conference - Santa Clara, CA, USA
משך הזמן: 11 מאי 199814 מאי 1998

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Laser formed connections for programmable wiring'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי