דילוג לניווט ראשי דילוג לחיפוש דילוג לתוכן הראשי

Integrating Critical Queue Time Constraints into SMT2020 Simulation Models

פרסום מחקרי: פרק בספר / בדוח / בכנספרסום בספר כנסביקורת עמיתים

14 ציטוטים ‏(Scopus)

תקציר

In this paper, we study the impact of critical queue time (CQT) constraints in semiconductor wafer fabrication facilities (wafer fabs). Process engineers impose CQT constraints that require wafers to start a subsequent operation within a given time window after a certain operation is completed to prevent native oxidation and contamination effects on the wafer surface. We equip dataset 2 of the SMT2020 testbed with production control logic to avoid CQT constraint violations. Therefore, two different CQT-aware dispatching rules and a combination of a lot stopping strategy with these rules are proposed. The effect of the production control strategies is investigated by means of a simulation study. We show that the number of CQT violations can be reduced without large deteriorations of global performance measures such as cycle time and throughput.

שפה מקוריתאנגלית
כותר פרסום המארחProceedings of the 2020 Winter Simulation Conference, WSC 2020
עורכיםK.-H. Bae, B. Feng, S. Kim, S. Lazarova-Molnar, Z. Zheng, T. Roeder, R. Thiesing
מוציא לאורInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
עמודים1813-1824
מספר עמודים12
מסת"ב (אלקטרוני)9781728194998
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 14 דצמ׳ 2020
פורסם באופן חיצוניכן
אירוע2020 Winter Simulation Conference, WSC 2020 - Orlando, ארצות הברית
משך הזמן: 14 דצמ׳ 202018 דצמ׳ 2020

סדרות פרסומים

שםProceedings - Winter Simulation Conference
כרך2020-December
ISSN (מודפס)0891-7736

כנס

כנס2020 Winter Simulation Conference, WSC 2020
מדינה/אזורארצות הברית
עירOrlando
תקופה14/12/2018/12/20

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Integrating Critical Queue Time Constraints into SMT2020 Simulation Models'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי