Failure dynamics of the IGBT during turn-off for undamped inductive loading conditions

Chih Chieh Shen, Allen R. Hefner, David W. Berning, Joseph B. Bernstein

פרסום מחקרי: פרסום בכתב עתמאמרביקורת עמיתים

41 ציטוטים ‏(Scopus)

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Failure dynamics of the IGBT during turn-off for undamped inductive loading conditions'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

Keyphrases

Engineering