טביעת אצבע
להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Effect of stress interruption and pulsed biased stress on ultra-thin gate dielectric reliability'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.- מיון לפי
- משקל
- לפי סדר האלפבית
Effect of stress interruption and pulsed biased stress on ultra-thin gate dielectric reliability
Bin Wang, J. S. Suehle, E. M. Vogel, J. B. Bernstein
פרסום מחקרי: תוצר מחקר מכנס › הרצאה › ביקורת עמיתים
6
ציטוטים
(Scopus)