דילוג לניווט ראשי
דילוג לחיפוש
דילוג לתוכן הראשי
אוניברסיטת אריאל בשומרון בית
עזרה ושאלות נפוצות
English
עברית
العربية
בית
פרופילים
יחידות מחקר
פרסומים מחקריים
פרסים
פעילויות
חיפוש לפי מומחיות, שם או שיוך
A systematic approach for calculating the symbol error rate for the entire range of E
b
/ N
0
above and below the threshold point for the CE-OFDM system
Monika Pinchas
,
Yosef Pinhasi
הנדסת חשמל ואלקטרוניקה
פרסום מחקרי
:
פרסום בכתב עת
›
מאמר
›
ביקורת עמיתים
סקירה כללית
טביעת אצבע
טביעת אצבע
להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'A systematic approach for calculating the symbol error rate for the entire range of E
b
/ N
0
above and below the threshold point for the CE-OFDM system'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.
מיון לפי
משקל
לפי סדר האלפבית
Engineering
Symbol Error Rate
100%
Systematic Approach
100%
Threshold Point
100%
Noise Ratio
50%
Closed Form
33%
Demodulator
33%
Energy Engineering
16%
Simulation Result
16%
Assuming
16%
Obtained Expression
16%
Integral Method
16%
Edgeworth Expansion
16%
Noise Density
16%
Density Ratio
16%
Additive White Gaussian Noise
16%
Simulated Result
16%
Keyphrases
OFDM Systems
100%
Constant Envelope OFDM
100%
Symbol Error Rate
100%
Carrier-to-noise Ratio
50%
Phase Demodulator
33%
Linearization Techniques
16%
Calculator
16%
Laplace Integral Method
16%
Edgeworth Expansion
16%
Rate-based
16%
Bit Energy
16%
Noise Density
16%
Additive White Gaussian Noise
16%
Matters of Fact
16%
Arctangent
16%