דילוג לניווט ראשי
דילוג לחיפוש
דילוג לתוכן הראשי
אוניברסיטת אריאל בשומרון בית
עזרה ושאלות נפוצות
!!Link opens in a new tab
English
עברית
العربية
!!Search content at אוניברסיטת אריאל בשומרון
בית
פרופילים
יחידות מחקר
ציוד
פרסומים מחקריים
פרסים
פעילויות
עיתונות/תקשורת
הצגת פרופיל Scopus
גדי גולן
פרופ'
פרופסור חבר
,
הנדסת חשמל ואלקטרוניקה
https://orcid.org/0000-0002-1993-583X
1987 …
2025
פעילות מחקר לפי שנה
סקירה כללית
טביעת אצבע
רשת
פרסומים מחקריים
(113)
פרופילים דומים
(1)
טביעת אצבע
תחומי מחקר אלו נובעים מהפרסומים המדעיים של אדם זה. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.
מיון לפי
משקל
לפי סדר האלפבית
Material Science
Thin Films
100%
Film
55%
Silicon
46%
Oxide Compound
36%
Surface (Surface Science)
30%
Indium
26%
Magnetron Sputtering
22%
Solar Cell
21%
Microhardness
19%
Electronic Circuit
19%
Photovoltaics
17%
Electrical Resistivity
16%
Oxide Film
15%
Vanadium
14%
Optical Property
12%
Al2O3
11%
Dislocation Structure
10%
Heterojunction
10%
Transistor
10%
Resonator
10%
Atomic Force Microscopy
9%
Neutron Irradiation
8%
Silicon Solar Cell
8%
Waveguide
8%
Phase Composition
8%
Thin Film Coating
8%
Diamond Like Carbon Films
7%
Scanning Acoustic Microscopy
7%
Tantalum
7%
Thermoelectrics
7%
Silicon Carbide
7%
Aluminum
7%
Metal Coating
7%
Tungsten
6%
Density
6%
Reflectivity
6%
Indentation
5%
Film Thickness
5%
Silver
5%
Scanning Electron Microscopy
5%
Thin Film Growth
5%
Keyphrases
Indium Oxide
32%
Photothermal
27%
Electrical Properties
26%
Sputtering Method
24%
Low Pressure
18%
Microhardness
17%
Solar Cell
17%
Optical Properties
16%
DC Magnetron Sputtering
16%
Transparent Conductive Materials
16%
Triode
15%
Indium Oxide Thin Films
14%
Scanning Acoustic Microscopy
14%
Vanadium Oxide Thin Film
14%
Silicon Detectors
14%
Neutron-irradiated
14%
Plasma Discharge
14%
Glass Substrate
13%
Thin Systems
13%
Sputtering Process
12%
Neutron Irradiation
12%
Semiconductors
11%
Thermal Sensor
11%
Langmuir Probe
11%
P-type
10%
Heterostructure
10%
Dislocation Structure
10%
Dislocation Loops
10%
Failure Mechanism
10%
Aluminum Oxide
10%
Atomic Force Microscopy
10%
Resistivity
10%
Argon Atmosphere
10%
Substrate Temperature
10%
Solar Energy
10%
Electron Beam
10%
Novel Types
10%
Electrical Field
10%
Thermal Processing
9%
Photovoltaic System
9%
Mechanical Properties
9%
Property Study
8%
Vidicon
8%
Scanning Acoustic Microscope
8%
Argon Pressure
8%
Pure Argon
8%
Multicrystalline Silicon
8%
Transparent Conductive Coatings
8%
SOI CMOS
8%
In2O3 Thin Film
8%
Engineering
Thin Films
96%
Conductive
25%
Solar Cell
22%
Microhardness
19%
Photovoltaics
17%
Surface Acoustic Wave
14%
Thermal Sensor
13%
Magnetron
13%
Deposited Film
12%
Dislocation Loop
11%
Dislocation Structure
10%
Scanning Acoustic Microscopy
10%
Atomic Force Microscopy
10%
Heterojunctions
10%
Electric Field
10%
Waveguide
9%
Microelectronics
9%
Failure Mechanism
9%
Phase Composition
9%
Photovoltaic System
9%
Glass Substrate
9%
Solar Energy
9%
Transport Mechanism
8%
High Resolution
8%
Main Advantage
8%
Crystalline Silicon
8%
Magnetic Field
8%
Power Quality
7%
Harmonics
7%
Reflectance
7%
Diamond-Like Carbon
7%
Deformation Characteristic
7%
Pressure Range
7%
Smart Grid
7%
Emissivity
7%
Scanning Electron Microscope
7%
Field Effect Transistor
7%
Large-Scale Systems
7%
Mechanical Model
7%
Solar Panel
7%
Maximum Power Point Tracking
7%
Thermodynamic System
7%
Networks (Circuits)
7%
Directional Coupler
7%
Mode Shape
7%
Resonator
7%
Photovoltaic Effect
6%
Silicon Substrate
6%
Thin Film Growth
6%
Substrate Temperature
6%
