تخطي إلى التنقل الرئيسي تخطي إلى البحث تخطي إلى المحتوى الرئيسي

Y1-xCaxBa2Cu3O7-δ thin films: From phase fluctuations to a complex order parameter

نتاج البحث: نشر في مجلةمقالةمراجعة النظراء

ملخص

This report presents a study of the temperature dependence of the penetration depth in Y1-xCaxBa2Cu3O7-δ thin films, which shows that a contribution to the order parameter from phase fluctuations in optimally doped samples cannot be excluded, and demonstrates the appearance of an imaginary component in the order parameter in overdoped samples. Measurements were performed using two complementary techniques: the parallel plate resonator (PPR), operated at 10 GHz, and far infrared (FIR) transmission, where the absolute value of the penetration depth can be obtained.

اللغة الأصليةالإنجليزيّة
الصفحات (من إلى)3082-3084
عدد الصفحات3
دوريةJournal of Physics and Chemistry of Solids
مستوى الصوت69
رقم الإصدار12
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرنُشِر - ديسمبر 2008

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Y1-xCaxBa2Cu3O7-δ thin films: From phase fluctuations to a complex order parameter'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا