Towards a new simulation testbed for semiconductor manufacturing

Michael Hassoun, Adar Kalir

نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

8 اقتباسات (Scopus)

ملخص

We propose the creation of a new set of fab simulation testbeds. Extensions and additional features, not considered in the original MIMAC datasets, shall be incorporated in these new testbeds, thus allowing researchers to evaluate new methodologies with the same frame of reference. To do this, we surveyed the literature and mapped the pertinent research efforts of the past two decades. In this paper, we discuss in detail the various aspects of the new testbeds, in order to receive feedback from the simulation community on the importance of inclusion of some of the items in question; and the verification of the required inclusion of other items. Given the feedback, we aim to generate these testbeds within a year to serve as the new frame of reference for the benefit of the entire semiconductor manufacturing simulation community.

اللغة الأصليةالإنجليزيّة
عنوان منشور المضيف2017 Winter Simulation Conference, WSC 2017
المحررونVictor Chan
ناشرInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
الصفحات3612-3623
عدد الصفحات12
رقم المعيار الدولي للكتب (الإلكتروني)9781538634288
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرنُشِر - 28 يونيو 2017
الحدث2017 Winter Simulation Conference, WSC 2017 - Las Vegas, الولايات المتّحدة
المدة: ٣ ديسمبر ٢٠١٧٦ ديسمبر ٢٠١٧

سلسلة المنشورات

الاسمProceedings - Winter Simulation Conference
رقم المعيار الدولي للدوريات (المطبوع)0891-7736

!!Conference

!!Conference2017 Winter Simulation Conference, WSC 2017
الدولة/الإقليمالولايات المتّحدة
المدينةLas Vegas
المدة٣/١٢/١٧٦/١٢/١٧

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Towards a new simulation testbed for semiconductor manufacturing'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا