The contribution of HFO 2 bulk oxide traps to dynamic NBTI in PMOSFET'S
- B. Zhu
- , J. S. Suehle
- , E. Vogel
- , J. B. Bernstein
نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمر › منشور من مؤتمر › مراجعة النظراء
1
اقتباس
(Scopus)