The contribution of HFO 2 bulk oxide traps to dynamic NBTI in PMOSFET'S
B. Zhu, J. S. Suehle, E. Vogel, J. B. Bernstein
نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمر › منشور من مؤتمر › مراجعة النظراء
1
اقتباس
(Scopus)