Spatial distributions of trapping centers in HfO2/SiO2 gate stack
Dawei Heh, Chadwin D. Young, George A. Brown, P. Y. Hung, Alain Diebold, Eric M. Vogel, Joseph B. Bernstein, Gennadi Bersuker
نتاج البحث: نشر في مجلة › مقالة › مراجعة النظراء
55
اقتباسات
(Scopus)