Scanning near-field infrared microscopy based on tapered silver-halide probes

P. Ephrat, K. Roodenko, L. Nagli, A. Katzir

نتاج البحث: نشر في مجلةمقالةمراجعة النظراء

31 اقتباسات (Scopus)

ملخص

The development of scanning near-field infrared microscopes (SNIM) based on fiberoptic silver-halide probes was studied. The feasibility of using these probes in a SNIM system were demonstrated by imaging of a subwavelength test pattern. The knife-edge technique was used to perform spatial characterization of the radiation distribution emitted from these probes. These probes possess broad range of spectral transmission in the mid-infrared (IR) that proved very useful in high spatial resolution spectroscopy.

اللغة الأصليةالإنجليزيّة
الصفحات (من إلى)637-639
عدد الصفحات3
دوريةApplied Physics Letters
مستوى الصوت84
رقم الإصدار4
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرنُشِر - 26 يناير 2004
منشور خارجيًانعم

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Scanning near-field infrared microscopy based on tapered silver-halide probes'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا