Penetration depth measurement in high quality YBa2Cu3O7 - X thin films

E. Farber, G. Deutscher, J. P. Contour, E. Jerby

نتاج البحث: نشر في مجلةمقالةمراجعة النظراء

21 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Penetration depth measurement in high quality YBa2Cu3O7 - X thin films'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Keyphrases

Engineering

Physics