تخطي إلى التنقل الرئيسي
تخطي إلى البحث
تخطي إلى المحتوى الرئيسي
الصفحة الرئيسية
المساعدة والأسئلة الشائعة
English
עברית
العربية
الصفحة الرئيسية
الملفات الشخصية
الوحدات البحثية
نتاج البحث
الجوائز
أنشطة
البحث حسب الخبرة أو الاسم أو الانتماء
Investigation of the electrical transport mechanism in VO
x
thin films
A. Axelevitch, B. Gorenstein,
G. Golan
نتاج البحث
:
نشر في مجلة
›
مقالة
›
مراجعة النظراء
7
اقتباسات (Scopus)
معاينة
بصمة
بصمة
أدرس بدقة موضوعات البحث “Investigation of the electrical transport mechanism in VO
x
thin films'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.
فرز حسب
الوزن
أبجديًا
Keyphrases
Vanadium Oxide Thin Film
100%
VOx Thin Films
100%
Electrical Field
100%
Electrical Transport Mechanism
100%
Optical Properties
66%
Electrical Properties
66%
Near-IR
33%
Phase Transition
33%
Vanadium
33%
High Field
33%
Semiconductors
33%
Transport Mechanism
33%
IR Reflectance
33%
Switching Application
33%
Medium Field
33%
Non-stoichiometric
33%
Schottky
33%
Poole-Frenkel
33%
Vanadium Oxide
33%
Phase Transformation
33%
Thermal Response
33%
Electrophysical
33%
Ohmic
33%
Physical Behavior
33%
Vacuum Evaporation
33%
Reflectance Characteristics
33%
Material Science
Thin Films
100%
Vanadium
100%
Oxide Compound
60%
Film
40%
Optical Property
40%
Oxidation Reaction
20%
Oxide Film
20%
Engineering
Thin Films
100%
Transport Mechanism
100%
Electric Field
75%
Physical Behavior
25%
Oxide Film
25%
Reflectance
25%