Failure dynamics of the IGBT during turn-off for undamped inductive loading conditions

Chih Chieh Shen, Allen R. Hefner, David W. Berning, Joseph B. Bernstein

نتاج البحث: نشر في مجلةمقالةمراجعة النظراء

41 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Failure dynamics of the IGBT during turn-off for undamped inductive loading conditions'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Keyphrases

Engineering