Atomic force microscopy investigation of dislocation structures and deformation characteristics in neutron irradiated silicon detectors

G. Golan, E. Rabinovich, A. Inberg, A. Axelevitch, M. Oksman, Y. Rosenwaks, A. Kozlovsky, P. J. Rancoita, M. Rattagi, A. Seidman, N. Croitoru

نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمر › منشور من مؤتمر › مراجعة النظراء