تخطي إلى التنقل الرئيسي
تخطي إلى البحث
تخطي إلى المحتوى الرئيسي
الصفحة الرئيسية
المساعدة والأسئلة الشائعة
English
עברית
العربية
الصفحة الرئيسية
الملفات الشخصية
الوحدات البحثية
نتاج البحث
الجوائز
أنشطة
البحث حسب الخبرة أو الاسم أو الانتماء
A systematic approach for calculating the symbol error rate for the entire range of E
b
/ N
0
above and below the threshold point for the CE-OFDM system
Monika Pinchas
,
Yosef Pinhasi
Department of Electrical and Electronics Engineering
نتاج البحث
:
نشر في مجلة
›
مقالة
›
مراجعة النظراء
معاينة
بصمة
بصمة
أدرس بدقة موضوعات البحث “A systematic approach for calculating the symbol error rate for the entire range of E
b
/ N
0
above and below the threshold point for the CE-OFDM system'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.
فرز حسب
الوزن
أبجديًا
Engineering
Symbol Error Rate
100%
Systematic Approach
100%
Threshold Point
100%
Noise Ratio
50%
Closed Form
33%
Demodulator
33%
Energy Engineering
16%
Simulation Result
16%
Obtained Expression
16%
Integral Method
16%
Edgeworth Expansion
16%
Noise Density
16%
Density Ratio
16%
Additive White Gaussian Noise
16%
Simulated Result
16%
Keyphrases
OFDM Systems
100%
Constant Envelope OFDM
100%
Symbol Error Rate
100%
Carrier-to-noise Ratio
50%
Phase Demodulator
33%
Linearization Techniques
16%
Calculator
16%
Laplace Integral Method
16%
Edgeworth Expansion
16%
Rate-based
16%
Bit Energy
16%
Noise Density
16%
Additive White Gaussian Noise
16%
Matters of Fact
16%
Arctangent
16%