تخطي إلى التنقل الرئيسي تخطي إلى البحث تخطي إلى المحتوى الرئيسي

A novel dynamic process control scheme to improve cycle time in Fabs

نتاج البحث: نشر في مجلة › مقالة › مراجعة النظراء

1 اقتباس (Scopus)

ملخص

Based on previous results showing the tradeoff existing between cycle time (CT) and yield in fabs we propose to dynamically set the control limits of the statistical process control. The limits are determined based on the current level of congestion. We study both a single station and a simple multiple station transfer line and show that the resulting operating points are vastly better in terms of CT, while keeping the yield loss at acceptable levels.

اللغة الأصليةالإنجليزيّة
رقم المقال7592402
الصفحات (من إلى)32-38
عدد الصفحات7
دوريةIEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
مستوى الصوت30
رقم الإصدار1
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرنُشِر - فبراير 2017

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “A novel dynamic process control scheme to improve cycle time in Fabs'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا