تخطي إلى التنقل الرئيسي تخطي إلى البحث تخطي إلى المحتوى الرئيسي

A New High-Volume/Low-Mix Simulation Testbed for Semiconductor Manufacturing

نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمر › منشور من مؤتمر › مراجعة النظراء

17 اقتباسات (Scopus)

ملخص

As part of an effort to present to the semiconductor manufacturing community an updated wafer fab testbed, we provide the first of two simulation models, namely a High-Volume/Low-Mix (HV/LM) fab simulation model. The model is realistic in scale and level of complexity. A full description of the model features is provided, and its performance is studied based on an implementation using the AutoSched AP simulation tool. The simulation model is made publicly available online to allow researchers as well as practitioners to gain hands-on experience with it, and hopefully validate its features, or propose changes if needed. A final version of the testbed, including a low-volume/high-mix wafer fab simulation model will be presented within a year.

اللغة الأصليةالإنجليزيّة
عنوان منشور المضيف2019 Winter Simulation Conference, WSC 2019
ناشرInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
الصفحات2419-2428
عدد الصفحات10
رقم المعيار الدولي للكتب (الإلكتروني)9781728132839
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرنُشِر - ديسمبر 2019
الحدث2019 Winter Simulation Conference, WSC 2019 - National Harbor, الولايات المتّحدة
المدة: 8 ديسمبر 2019 → 11 ديسمبر 2019

سلسلة المنشورات

الاسمProceedings - Winter Simulation Conference
مستوى الصوت2019-December
رقم المعيار الدولي للدوريات (المطبوع)0891-7736

!!Conference

!!Conference2019 Winter Simulation Conference, WSC 2019
الدولة/الإقليمالولايات المتّحدة
المدينةNational Harbor
المدة8/12/19 → 11/12/19

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “A New High-Volume/Low-Mix Simulation Testbed for Semiconductor Manufacturing'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا