מיכאל חסון

Dr.

20052024

نتاج الأبحاث سنويًا

التصفية
منشور من مؤتمر

نتائج البحث

  • 2024

    ANALYZING THE TRADE-OFF BETWEEN QUALITY AND SOJOURN TIME WHEN OPTIMIZING SAMPLING PLANS IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING

    Dauzère-Pérès, S. & Hassoun, M., 2024, 2024 Winter Simulation Conference, WSC 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., صفحة 1898-1906 9 صفحة (Proceedings - Winter Simulation Conference).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

  • 2020

    Integrating Critical Queue Time Constraints into SMT2020 Simulation Models

    Kopp, D., Hassoun, M., Kalir, A. & Monch, L., 14 ديسمبر 2020, Proceedings of the 2020 Winter Simulation Conference, WSC 2020. Bae, K.-H., Feng, B., Kim, S., Lazarova-Molnar, S., Zheng, Z., Roeder, T. & Thiesing, R. (المحررون). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., صفحة 1813-1824 12 صفحة 9383889. (Proceedings - Winter Simulation Conference; المجلد 2020-December).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

    10 اقتباسات (Scopus)
  • 2019

    A New High-Volume/Low-Mix Simulation Testbed for Semiconductor Manufacturing

    Hassoun, M., Kopp, D., Monch, L. & Kalir, A., ديسمبر 2019, 2019 Winter Simulation Conference, WSC 2019. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., صفحة 2419-2428 10 صفحة 9004654. (Proceedings - Winter Simulation Conference; المجلد 2019-December).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

    12 اقتباسات (Scopus)
  • 2017

    Towards a new simulation testbed for semiconductor manufacturing

    Hassoun, M. & Kalir, A., 28 يونيو 2017, 2017 Winter Simulation Conference, WSC 2017. Chan, V. (محرر). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., صفحة 3612-3623 12 صفحة (Proceedings - Winter Simulation Conference).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

    8 اقتباسات (Scopus)
  • 2016

    Optimizing capacity assignment of multiple identical metrology tools

    Dauzère-Pérès, S., Hassoun, M. & Sendon, A., 2 يوليو 2016, 2016 Winter Simulation Conference: Simulating Complex Service Systems, WSC 2016. Roeder, T. M., Frazier, P. I., Szechtman, R. & Zhou, E. (المحررون). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., صفحة 2709-2718 10 صفحة 7822308. (Proceedings - Winter Simulation Conference; المجلد 0).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

    2 اقتباسات (Scopus)
  • 2015

    Setting quality control requirements to balance between Cycle Time and Yield in a semiconductor production line

    Gilenson, M., Hassoun, M. & Yedidsion, L., 23 يناير 2015, Proceedings of the 2014 Winter Simulation Conference, WSC 2014. Tolk, A., Yilmaz, L., Diallo, S. Y. & Ryzhov, I. O. (المحررون). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., صفحة 2422-2433 12 صفحة 7020086. (Proceedings - Winter Simulation Conference; المجلد 2015-January).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

  • 2013

    Prediction of product layer cycle time using data mining

    Hassoun, M., 2013, Proceedings of the 2013 Winter Simulation Conference - Simulation: Making Decisions in a Complex World, WSC 2013. صفحة 3905-3911 7 صفحة 6721749. (Proceedings of the 2013 Winter Simulation Conference - Simulation: Making Decisions in a Complex World, WSC 2013).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

    دخول حر
    1 اقتباس (Scopus)
  • 2012

    Setting quality control requirements to balance cycle time and yield - The single machine case

    Gilenson, M., Yedidsion, L. & Hassoun, M., 2012, Proceedings of the 2012 Winter Simulation Conference, WSC 2012. 6465118. (Proceedings - Winter Simulation Conference).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

    1 اقتباس (Scopus)
  • 2011

    Statics and dynamics of re-entrant production lines

    Hassoun, M., Meerkov, S. M. & Yan, C. B., 2011, Proceedings of the 18th IFAC World Congress. 1 PART 1 طبعة IFAC Secretariat, صفحة 11628-11635 8 صفحة (IFAC Proceedings Volumes (IFAC-PapersOnline); المجلد 44, رقم 1 PART 1).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

    دخول حر
  • 2009

    Data mining for cycle time key factor identification and prediction in semiconductor manufacturing

    Meidan, Y., Lerner, B., Hassoun, M. & Rabinowitz, G., 2009, Proceedings of the 13th IFAC Symposium on Information Control Problems in Manufacturing, INCOM'09. 4 PART 1 طبعة IFAC Secretariat, صفحة 217-222 6 صفحة (IFAC Proceedings Volumes (IFAC-PapersOnline); المجلد 42, رقم 4 PART 1).

    نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

    دخول حر
    5 اقتباسات (Scopus)